基于田口質量損失函數(shù)的EWMA控制圖的最優(yōu)設計.pdf

1、在統(tǒng)計過程控制(SPC)中,控制圖的最優(yōu)化設計主要有兩個方向,即統(tǒng)計設計和經濟設計。然而,統(tǒng)計設計并沒有直接測量出由于過程失控所引起的損失；經濟設計主要是為了使SPC的損失最小化,暴露出諸如統(tǒng)計特征不顯著、大量的損失參數(shù)及模型參數(shù)估計起來很困難等不足之處。 綜合考慮統(tǒng)計設計和經濟設計,前人提出了ML--X控制圖和單邊ML-CUSUM控制圖,通過搜索控制圖的樣本容量、抽樣間隔、控制限等參數(shù)的最優(yōu)組合,使整個過程的質量損失函數(shù)均值(

2、ML)最小化。本文提出的用來檢測均值發(fā)生漂移的EWMA控制圖的最優(yōu)設計,是在整個過程均值發(fā)生漂移時,通過最優(yōu)化選擇樣本容量n、抽樣間隔h、上控制限UCL、下控制限LCL、EWMA的滑動指數(shù)λ,使得ML值達到最小,把這種控制圖稱之為ML-EWMA控制圖。 接著,本文給出了ML-EWMA圖的統(tǒng)計量和控制限,固定參數(shù)在一些常見取值下,編寫SAS程序,通過三水平搜索法搜索出該控制圖的最優(yōu)參數(shù)組合及相應的ML值,并且通過一個24因子的試驗

3、設計考察該控制圖中選擇參數(shù)的規(guī)律。 其中,關于ML-EWMA控制圖的平均報警時間ATS的計算是個復雜的問題,本文具體介紹了ATS的計算問題。并驗證了計算AtS常用的馬爾可夫鏈法和積分方程法實質上是一致的結論。 解決了ML-EWMA控制圖的ATS的計算問題后,也就找到了該圖的最優(yōu)設計,為了說明該圖的優(yōu)良性,本文把新提出的ML-EWMA控制圖分別與前人提出的ML--X控制圖和ML-CUSUM控制圖,以及作統(tǒng)計設計的EWMA控